電阻計

簡要描述：RM3542A
最shi合于自動設(shè)備，可測量極小電子元件
最shi合于自動設(shè)備的高速電阻計，可測極小電子元件測試電流：DC 測量時間：最快0.9ms 累積時間：最快0.1ms 最小分辨率：0.1μΩ

產(chǎn)品型號：RM3542A
廠商性質(zhì)：代理商
更新時間：2024-11-01
訪問量：116

產(chǎn)品分類CLASSIFICATION

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詳細(xì)介紹

品牌	HIOKI/日本日置	產(chǎn)地類別	進口
類型	其他	應(yīng)用領(lǐng)域	綜合

電阻計RM3542A

最shi合于自動設(shè)備的電阻計，可測量極小電子元件

最shi合于自動設(shè)備的高速電阻計，可測極小電子元件測試電流：DC 測量時間：最快0.9ms 累積時間：最快0.1ms 最小分辨率：0.1μΩ

● 通過施加電壓限制功能，檢查電壓可以改為5V以下
● 控制沖擊電流的接觸改善功能，支持測量極小元件
● 豐富的測量，確保檢測電壓，實現(xiàn)穩(wěn)定測量
● 縮放功能能夠補償實裝狀態(tài)或檢查階段的偏差

主機不帶治具。由于考慮到要組裝至自動設(shè)備中，因此請客戶按照用途自行制作。

外加電壓限制功能能輕松測量極小電子元件（0201尺寸）
通過將測量時的外加電壓限制在5V以下，額定電壓較小的0201尺寸的原件無需外加壓力即可進行測量。
快速、準(zhǔn)確的接觸，接觸改善功能
與測試物接觸時，可以刺破探頭和測試物之間的氧化膜和污垢，改善接觸狀態(tài)。通過改善接觸不良實現(xiàn)穩(wěn)定測量，而且能降低接觸錯誤率，從而提供生產(chǎn)效率。
針對低功率測量的接觸改善功能
進行接觸改善時，通過控制流出測試物中的沖擊電流，可以將接觸改善的使用范圍擴大至小型的鐵氧體磁珠或0201尺寸的極小電阻檢查中。
使用縮放功能可以補償并測量實際安裝狀態(tài)
通過縮放功能，實際安裝時和單獨下能夠補償檢查時的電阻值的差異（探測位置的影響等）。在進行分流等低電阻的電流檢測電阻的檢查發(fā)揮作用。

基本參數(shù)(精度保證時間1年，調(diào)整后精度保證時間1年)

電阻測量量程	[Low Power OFF時]量程100mΩ (最大顯示120.0000mΩ, 分辨率0.1μΩ) ～100MΩ(最大顯示120.0000MΩ, 分辨率100Ω), 16檔切換 [Low Power ON時]量程1000mΩ (最大顯示1200.000mΩ, 分辨率1μΩ) ～1000Ω (最大顯示1200.000Ω, 分辨率1mΩ), 6檔切換
顯示	單色圖形LCD240 × 64 dot, 白色LED背光燈
測量精度	[量程100mΩ, SLOW時] ±0.015 % rdg. ±0.002 % f.s. [量程1000Ω, SLOW時] ±0.006 % rdg. ±0.001 % f.s. (最高精度)
測試電流	[量程100mΩ時] DC 100mA～[量程100MΩ時] DC 100nA
開路端子電壓	DC 20 V max. 施加電壓限制功能ON時：DC 10 V以下
采樣	FAST, MED, SLOW
測量時間Low Power OFF時	[量程100Ω, 1000Ω時] FAST 0.9 ms, MED 3.6 ms, SLOW 17 ms (最短測量時間)
累積時間	檢測電壓的讀取時間: 0.1ms～100.0ms, 1～5 PLC: 50Hz時, 1～6 PLC: 60Hz時 (PLC:供電電源的1個周期)
其他功能	比較器(設(shè)置值和測量值的比較判定), 延遲設(shè)置, 施加電壓限制功能能,縮放功能,偏壓補償(OVC), 測量異常檢測, 探頭短路檢測, 接觸改善, 存儲功能, 同級運算, 設(shè)置監(jiān)視(和另一臺RM3542的測量條件比較), 重試, 觸發(fā)功能等
接口	RS-232C，打印機，GP-IB（-51型號）
外部輸入輸出	觸發(fā)、保持輸入、比較器輸出等，設(shè)置監(jiān)視端子
電源	AC100～240 V, 50/60 Hz, 30 VA max.
體積及重量	260W × 88H × 300D mm, 2.9 kg
附件	電源線×1, EXT. I/O用公頭連接器×1, 使用說明書×1, 操作指南×1