TH2851-130XS精密阻抗分析儀是常州同惠電子采用當(dāng)前的自動(dòng)平衡電橋原理研制成功的新一代阻抗測(cè)試儀器，為國(guó)產(chǎn)阻抗測(cè)試儀器的高度。

TH2851-130XS精密阻抗分析儀改變了傳統(tǒng)國(guó)產(chǎn)儀器復(fù)雜繁瑣的操作界面，基于Windows10操作系統(tǒng)，實(shí)現(xiàn)了全電腦化操作界面，讓測(cè)試更智能、更簡(jiǎn)便。

TH2851-130XS精密阻抗分析儀也超越了國(guó)外同類(lèi)儀器120MHz的頻率瓶頸；解決了國(guó)外同類(lèi)儀器只能分析、無(wú)法單獨(dú)測(cè)試的缺陷；中英文操作界面也解決了國(guó)外儀器僅有英文界面的尷尬；采用單測(cè)和分析兩種界面，讓測(cè)試更簡(jiǎn)單。

快達(dá)2.5ms的測(cè)試速度、及高達(dá)100MΩ的阻抗測(cè)試范圍可以滿(mǎn)足元件與材料的測(cè)量要求，特別有利于低損耗(D)電容器和高品質(zhì)因數(shù)(Q)電感器的測(cè)量。四端對(duì)的端口配置方式可有效消除測(cè)試線(xiàn)電磁耦合的影響，將低阻抗測(cè)試能力的下限比常規(guī)五端配置的儀器向下擴(kuò)展了十倍。

A. 高精度

寬帶自動(dòng)調(diào)零型自動(dòng)平衡電橋技術(shù)的應(yīng)用，得以在10Hz-130MHz頻率、25mΩ-50MΩ的阻抗范圍內(nèi)都能達(dá)到理想的10%測(cè)量精度，其中精度達(dá)0.045%，遠(yuǎn)遠(yuǎn)高于射頻反射測(cè)量法的阻抗分析儀、網(wǎng)絡(luò)分析儀的精度。

B. 高穩(wěn)定性和高一致性

下圖是在速度5、測(cè)試頻率1MHz，測(cè)量100Ω電阻的曲線(xiàn)，由下圖可見(jiàn)其軌跡噪聲≦0.003%（≦±0.0015Ω）

C. 高速度

D. 10.1寸大屏，四種測(cè)量參數(shù)，讓細(xì)節(jié)一覽無(wú)遺

10.1寸觸摸屏、1280*800分辨率，Windows10系統(tǒng)、中英文操作界面，支持鍵盤(pán)、鼠標(biāo)、LAN、VGA/HDMI接口，帶來(lái)的是無(wú)以倫比的操作便捷性。

大屏幕帶來(lái)更多的好處是，可以把所有測(cè)試參數(shù)及分選參數(shù)、分選結(jié)果、功能選擇等參數(shù)放置在同一屏幕，而且看起來(lái)絕不擁擠和雜亂，同時(shí)可以顯示四種測(cè)量參數(shù)，四種測(cè)量參數(shù)任意可調(diào)。屏幕左邊的按鈕可以快捷選擇8套測(cè)試參數(shù)

E. 增強(qiáng)的列表掃描功能

可以最多設(shè)置1601點(diǎn)的列表掃描，每個(gè)點(diǎn)可以單獨(dú)設(shè)置測(cè)試頻率、測(cè)試電壓、直流偏置等測(cè)試條件。

F. 強(qiáng)大的分析圖形界面

最多可以4通道同時(shí)顯示，每個(gè)通道可以最多顯示4條曲線(xiàn)。通道和曲線(xiàn)各有十四種分屏顯示方法

G. 分段掃描功能

分段掃描是在一個(gè)掃描周期內(nèi)，設(shè)置不同的頻率分段進(jìn)行掃描，掃描時(shí)可設(shè)置不同的電平及偏置，掃描結(jié)果直接圖形顯示，用于需要快速篩選多個(gè)頻率段參數(shù)的掃描需求。

如晶體諧振器需要測(cè)試標(biāo)稱(chēng)諧振/抗諧振頻率以及其他雜散頻率，通過(guò)分段掃描功能可在特定頻率范圍內(nèi)掃描測(cè)量，無(wú)需掃描不相關(guān)頻率

H. 強(qiáng)大的光標(biāo)分析能力

TH2851系列精密阻抗分析儀具有強(qiáng)大的光標(biāo)分析能力，可以通過(guò)光標(biāo)實(shí)現(xiàn)如下功能：

1. 讀取測(cè)量結(jié)果的數(shù)值（作為數(shù)值或者相對(duì)于參考點(diǎn)的相對(duì)值）

2. 查找曲線(xiàn)上的特定點(diǎn)（光標(biāo)查找）

3. 分析曲線(xiàn)測(cè)量結(jié)果，計(jì)算統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)

4. 使用光標(biāo)值修改掃描范圍以及縱坐標(biāo)縮放

TH2851 可以在每條曲線(xiàn)上顯示10個(gè)光標(biāo)，包括了參考光標(biāo)。

每個(gè)光標(biāo)有一個(gè)激勵(lì)值（坐標(biāo)系X軸對(duì)應(yīng)的數(shù)值）和響應(yīng)值（坐標(biāo)系Y軸對(duì)應(yīng)的數(shù)值）。

光標(biāo)查找功能允許搜索下列條件測(cè)量點(diǎn)：

I. 強(qiáng)大的圖形分析功能

1） 曲線(xiàn)分選功能

可以對(duì)掃描曲線(xiàn)全部或者部分區(qū)域的測(cè)試值進(jìn)行合格/不合格判斷，常用于諧振曲線(xiàn)篩選如壓電元件等諧振頻率。

2） 等效電路分析測(cè)試

現(xiàn)實(shí)生活中不同類(lèi)型的器件可以被等效成簡(jiǎn)單的三參數(shù)四種模型、四參數(shù)三種模型的阻抗器件，等效電路分析測(cè)試功能提供了7種基本的電路模型用于等效 這些器件。

可以通過(guò)仿真的等效電路參數(shù)值的阻抗擬合曲線(xiàn)與實(shí)際測(cè)量的阻抗曲線(xiàn)進(jìn)行對(duì)比，還可以通過(guò)您輸入的參數(shù)按照所選擇的模型進(jìn)行擬合。

等效的電路模型可以直接輸出成TXT文檔方便用戶(hù)保存使用

3） 晶體振蕩器分析（壓電器件分析）

對(duì)晶體振蕩器進(jìn)行測(cè)量以及性能分析，測(cè)量計(jì)算后獲取晶體的諧振頻率、反諧振頻率、品質(zhì)因數(shù)等重要參數(shù)。

同時(shí)，對(duì)于其他壓電器件如壓電陶瓷濾波器、壓電陶瓷陷波器、壓電陶瓷鑒頻器、壓電陶瓷變壓器、大功率超聲波發(fā)生器、換能器（振子）、聲表面波器件、電聲器件等都可以測(cè)試如靜態(tài)電容、損耗、諧振頻率、反諧振頻率、機(jī)械耦合系數(shù)等參數(shù)。

4） 曲線(xiàn)軌跡對(duì)比

曲線(xiàn)軌跡對(duì)比用于對(duì)被測(cè)件進(jìn)行連續(xù)測(cè)量，所有曲線(xiàn)顯示在同一個(gè)坐標(biāo)系中。由下列兩種應(yīng)用：

a) 針對(duì)多種不同被測(cè)件

對(duì)比不同測(cè)量條件下的曲線(xiàn)軌跡

設(shè)置不同的頻率點(diǎn)，計(jì)算出所有曲線(xiàn)在該頻率點(diǎn)的測(cè)量值

b) 針對(duì)同一個(gè)被測(cè)件

對(duì)比同一個(gè)條件下測(cè)量的多次測(cè)量結(jié)果重復(fù)性

設(shè)置不同頻率點(diǎn)，計(jì)算出所有曲線(xiàn)在該頻率點(diǎn)的測(cè)量值

J. 介電常數(shù)分析（選件）

TH2851系列精密阻抗分析儀支持介質(zhì)材料介電常數(shù)、介質(zhì)損耗分析，需選購(gòu)測(cè)試夾具及分析軟件。

1. 配置

2. TH26077介質(zhì)材料測(cè)試夾具

TH26077電介質(zhì)材料測(cè)試夾具是設(shè)計(jì)在TH2851上進(jìn)行準(zhǔn)確的介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)量的夾具。通過(guò)使用平行板方法測(cè)量固態(tài)材料的介電常數(shù)，從而消除離散電容。

1） 外形結(jié)構(gòu)

2） 基本參數(shù)

3） 測(cè)試原理

4） 介電常數(shù)公式

3. 介電常數(shù)分析軟件

該軟件為選件，開(kāi)通后在TH2851界面直接選擇對(duì)應(yīng)的參數(shù)即可，分別可以單測(cè)、列表掃描、曲線(xiàn)掃描，下圖為曲線(xiàn)掃描界面。

K. 磁導(dǎo)率分析

TH2851支持磁性材料磁導(dǎo)率測(cè)試，在主機(jī)的基礎(chǔ)上，需選配測(cè)試夾具及磁導(dǎo)率分析軟件，具體配置如下：

1. 配置

2. 測(cè)試夾具

1）TH26086轉(zhuǎn)接底座

用于將4端對(duì)轉(zhuǎn)換成N型7mm底座，適配其他測(cè)試夾具如TH26088磁導(dǎo)率測(cè)試夾具。

TH26086為必選項(xiàng)，若未選購(gòu)，TH26088將無(wú)法正確測(cè)量。

技術(shù)參數(shù)

2）TH26088磁導(dǎo)率測(cè)試夾具

TH26088可精確測(cè)量環(huán)形磁性材料的磁導(dǎo)率。由于該夾具的結(jié)構(gòu)是環(huán)形線(xiàn)圈繞一圈（無(wú)漏磁），因此不需要繞環(huán)形線(xiàn)圈的導(dǎo)線(xiàn)，而且允許廣泛的頻率覆蓋。 它配有一個(gè)小型和一個(gè)大型夾具，適應(yīng)各種尺寸，是測(cè)量磁性材料的理想結(jié)構(gòu)。

技術(shù)參數(shù)

3. 測(cè)試原理

1） 磁導(dǎo)率基本概念

2） 有效磁導(dǎo)率

采用電感測(cè)量法測(cè)量，在環(huán)形磁芯的磁芯上纏繞導(dǎo)線(xiàn)，并放置在一個(gè)密閉的圓柱形空間內(nèi)（TH26088夾具），通過(guò)阻抗分析儀測(cè)量導(dǎo)線(xiàn)兩端的電感（自感），根據(jù)測(cè)試電感量及下列公式推導(dǎo)出有效磁導(dǎo)率。

3） 相對(duì)導(dǎo)磁率

4. 磁導(dǎo)率分析軟件（選件）

選擇開(kāi)通磁導(dǎo)率分析軟件之后，儀器便可以在單測(cè)、列表掃描、曲線(xiàn)掃描中直接選擇磁導(dǎo)率參數(shù)，直接在界面顯示測(cè)試結(jié)果

L. 標(biāo)配附件

M. 選配附件